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東莞市眾升儀器有限公司
 

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產品詳情
  • 產品名稱:數字式方塊電阻測試儀,電阻率測試儀,四探針薄膜電阻測試儀M-3

  • 產品型號:M-3
  • 產品廠商:其它品牌
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簡單介紹:
M-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。
詳情介紹:
數字式方塊電阻測試儀,電阻率測試儀,四探針薄膜電阻測試儀M-3

特點:
儀器成套組成:由M-3主機、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺。
儀器所有參數設定、功能轉換全部采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校功能;手動/自動轉換量程可選;測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用!
探頭選配:根據不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭,也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
基本技術參數
 

1. 測量范圍、分辨率

    阻:     0.010 50.00kΩ,     分辨率0.001 10 Ω

電 阻 率:     0.010 20.00kΩ-cm,分辨率0.001 10 Ω-cm

方塊電阻:     0.050100.00kΩ/   分辨率0.001 10 Ω/

2. 可測材料尺寸

手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺決定如下:

    徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15130mm

SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm

()度:測試臺直接測試方式 H100mm

測量方位: 軸向、徑向均可.

3. 量程劃分及誤差等級

量程(Ω-cm/□)

2.000

20.00

200.0

2.000k

20.00k

電阻測試范圍

0.0102.200

2.00022.00

20.00220.0

0.2002.200k

2.00050.00k

電阻率/方阻

0.010/0.0502.200

2.00022.00

20.00220.0

0.2002.200k

2.00020.00k/100.0k

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 適配器工作電源:220V±10, f=50Hz±4,PW5W,或電池供電

5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

   重:≤0.3kg

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